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      掃描離子電導顯微鏡

      掃描離子電導顯微鏡(Scanning Ion Conductance Microscopy,SICM)是一種非接觸型的掃描探針顯微鏡,具有納米級的測量分辨率。SICM可對柔軟樣品進行非接觸式掃描成像并獲得三維形貌,可在生理條件以納米級分辨率測量樣品形貌。

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      納米定位掃描機構本體

      用于對于樣本感知、掃描探針移液管的夾持、微納米級別的進給和定位;其配合相應的顯微平臺可以實現樣本材料形貌掃描、電化學分析以及細胞藥理學相關分析等。

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